テストフィクスチャー

• 低損失、低反射の同軸プローブ設計（～67GHz）
• テストフィクスチャーに最適化したRFコンタクトデザイン
• 自由なレイアウトを実現するカスタム製造
• 簡単なオペレーションと安定的なコンタクトを実現
• ハイパワーデバイス測定プローブに変更可能
• ヒートシンク搭載可能
• 専用の校正キット製造可能（カスタム）、最適化された定数の提供

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DLページへ：製作実績②TF_QFNシリーズ

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